AccuFiz表面隔离源

测量平面平行光学元件,而不在表面涂覆涂层。

测量透明光学元件的一个或两个表面。透射波前误差,光学厚度和均匀性可以计算,即使在较薄的材料。

平面平行光学测量用菲索干涉仪acufiz表面隔离源

测量平面平行光学

AccuFiz(SIS)–表面隔离源

平面平行光学元件是具有平行面的透明元件,或具有两个或两个以上平行面的系统。用干涉仪测量任何一个表面都是非常困难或不可能的,因为所有平行表面都会产生干涉图上的条纹。

4D的表面隔离源是一个可选的外部激光源,除了感兴趣的表面之外,它排除了所有的激光源。SIS模块允许您使用标准AccuFiz干涉仪测量透明光学元件的两个表面。您也可以计算传输波前误差,光学厚度和均匀性,所有这些都从一个单一的测量设置。

可调的路径匹配机制提供了灵活性,让你拨号在任何表面,是在88至112毫米的光圈。

期待什么

使用表面隔离源,您可以测量光学厚度低至150µm的平板或窗口。在单个设置中,可以测量前表面和后表面,而无需重新定位。均匀性、透射波前误差和光学厚度可以很容易地从这些测量的组合中获得。

配备SIS的AccuFiz可以执行标准AccuFiz的所有功能以及测量平面平行光学。例如,可以使用表面隔离源来测量平凸透镜的平面,然后切换到内部源并添加透射球来测量球面。

AccuFiz SIS干涉仪包括:

  1. AccuFiz 100 mm或150 mm干涉仪
  2. AccuFiz SIS光纤耦合源模块
  3. 用于测量和分析结果的高级软件
  4. 完整的计算机系统
  5. 连接电缆和电源。

4视线™ 波前分析软件,包括每个AccuFiz,具有良好的易用性和短的学习曲线。分析了透射波前误差、光学厚度和均匀性的测量,以及棱镜和角锥棱镜的面角测量。全面的数据共享功能使您能够读取、写入、保存和打印多种常用文件格式的数据,以便在仪器之间进行比较。

数据

分析软件

斐索与光学生产

AccuFiz Fizeaus非常适合光学制造。

  • 形状和空间中频
  • 测量平面、球体、立方体和镜子
  • 波前传输质量测量
  • 快速准确
  • 用于航空航天、半导体和光学工业188bet金宝搏网站188bet金宝搏亚洲体育与真人

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