AccuFiz表面隔离源

测量平面平行光学而不涂覆表面。

测量透明光学仪器的一个或两个表面。即使在较薄的材料上,也可以计算透射波前误差、光学厚度和均匀性。

用于测量平面平行光学的AccuFiz表面隔离源

光学测量平行板

AccuFiz (SIS) -表面隔离源

平面平行光学是具有平行面的透明器件,或具有两个或多个平行面的光学系统。用干涉仪测量任何一个表面都是极其困难或不可能的,因为所有的平行表面都会在干涉图中产生条纹。

4D的表面隔离源是一个可选的,外部激光光源排除了所有,但表面的兴趣。SIS模块可以让你用标准AccuFiz干涉仪测量透明光学的两面。你也可以计算传输波前误差,光学厚度和均匀性,所有从一个单一的测量设置。

可调路径匹配机制提供了灵活性,让您拨在任何表面,在88到112毫米的口径。

会发生什么

通过表面隔离源,您可以测量光学厚度低至150视锥m的板或窗。在一个单一的设置中,你可以测量前后表面而不需要重新定位它。均匀性,透射波前误差和光厚度可以很容易地从这些测量的组合得到。

配备SIS的AccuFiz可以完成标准AccuFiz的所有功能以及测量平面平行光学。例如,您可以使用表面隔离源来测量平凸透镜的平面,然后切换到内部源并添加一个透射球来测量球面。

一种AccuFiz SIS干涉仪包括:

  1. AccuFiz 100毫米或150毫米干涉仪
  2. AccuFiz是光纤耦合源模块
  3. 测量和分析结果的高级软件
  4. 完整的计算机系统
  5. 连接电缆和电源。

4Sight™波前分析软件,包括在每个AccuFiz中,具有极好的易用性和短的学习曲线。分析包括测量传输波前误差,光学厚度和均匀性,以及测量棱柱和角立方体的面和角度。全面的数据共享功能,让您读,写,保存和打印数据在许多常见的文件格式之间的比较仪器。

数据

分析软件

光纤和光学生产

AccuFiz Fizeaus非常适合光学制造。

  • 限定形状和中空间频率
  • 测量平底鞋,圆球,立方体和镜子
  • 波前传输质量测量
  • 快速和精确
  • 应用于航空航天、半导体、光学等行业188bet金宝搏网站188bet金宝搏亚洲体育与真人

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