AccuFiz表面隔离源极

测量平面平行光学而不涂覆表面。

测量一个或一个透明光学元件的两个表面上。发送波阵面误差,光学厚度和均匀性可以计算出,即使在较薄的材料。

Fizeau干涉仪的 - 用于测量平面平行光学AccuFiz表面分离源

测量平面平行的光学

AccuFiz(SIS) - 表面隔离源极

平面平行的光学器件具有平行面的透明部件,或具有两个或更多个平行的表面的系统。测量与干涉仪的任何一个表面上是极其困难的或不可能的,因为所有的平行表面有助于条纹的干涉图。

4D的表面隔离源是可选的,外部激光源即不包括所有,但感兴趣的表面。所述SIS模块用于测量一个透明光学元件的两个表面与标准AccuFiz干涉仪。还可以计算发射波前误差,光学厚度和均匀性,所有从一个单一的测量设置。

所述可调节路径匹配机制提供了灵活性,让你在任何表面,其从内孔88通过112毫米拨号。

什么期望

与表面隔离源用于测量板或窗户,光学厚度低至150微米。在一次装夹即可测量正面和背面无需重新定位它。均匀性,透射波前误差和光学厚度可以很容易地从这些测量值的组合获得。

一个AccuFiz配备SIS可以执行所有的标准AccuFiz的功能,以及测量平面平行的光学器件。例如,可以使用表面分离源,以测量平凸透镜的平面,然后再切换到内部源,并添加一个透射球面测量球形表面。

一个AccuFiz SIS干涉仪包括:

  1. AccuFiz为100mm或150毫米干涉仪
  2. AccuFiz SIS光纤耦合源模块
  3. 用于进行测量和分析结果高级软件
  4. 完整的计算机系统
  5. 连接电缆和电源。

的4Sight™波前分析软件,包括每AccuFiz,功能使用优秀的易用性和学习曲线短。分析被包括用于测量所传送的波阵面误差,光学厚度和均匀性,以及测量的面和棱镜和立方角镜的角度。全面的数据共享功能让你读,写,保存和打印在许多常见的文件格式数据的仪器之间的比较。

数据

分析软件

Fizeaus和光学生产

AccuFiz和FizCam fizeaus很适合于制造光学器件。

  • 出线的形状和中间空间频率
  • 测量单位,球体,立方体和镜子
  • 波传输质量测量
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