accufiz表面隔离源

在不涂覆表面的情况下测量平面平行光学器件。

测量透明光学器件的一个或两个表面。即使在较薄的材料上,也可以计算传送的波前误差,光学厚度和均匀性。

FIZEAU干涉仪 -  accufiz曲面隔离源测量平面平行光学

测量平面平行光学

Accufiz(SIS) - 表面隔离源

平面平行光学器件是具有平行面的透明部件,或具有两个或更多个平行表面的系统。随着所有平行表面贡献到干涉图的所有平行表面都是极其困难或不可能测量任何一个表面。

4D的表面隔离源是一种可选的外部激光源,除了感兴趣的表面之外。SIS模块允许您使用标准的Accufiz干涉仪测量透明光学器件的两个表面。您还可以从单个测量设置计算传输的波前误差,光学厚度和均匀性。

可调路径匹配机制提供了灵活性,让您在任何表面拨打距离孔径88到112毫米的表面。

什么期待

使用表面隔离源可允许光学厚度低至150μm的光学厚度测量板或窗口。在单个设置中,您可以在不重新定位的情况下测量前后表面。可以从这些测量的组合中容易地获得均匀性,传输的波前误差和光学厚度。

配备SIS的ACCUFIZ可以执行标准ACCUFIZ的所有功能,以及测量平行光纤。例如,您可以使用表面隔离源来测量平面凸透镜的平坦表面,然后切换到内部源并加一个传输球以测量球面。

ACCUFIZ SIS干涉仪包括:

  1. Accufiz 100 mm或150 mm干涉仪
  2. ACCUFIZ SIS光纤耦合源模块
  3. 用于进行测量和分析结果的高级软件
  4. 完整的计算机系统
  5. 连接电缆和电源。

4Sight™Wavefront Analysis软件包含在每个Accufiz中,具有出色的易用性和短期学习曲线。包括用于测量传输的波前误差,光学厚度和均匀性的分析,以及测量棱镜和角隅棱镜的面和角度。全面的数据共享功能可让您以许多常用文件格式读取,写入,保存和打印数据,以便在仪器之间进行比较。

数据

分析软件

Fizeaus和光学生产

Accufiz Fizeaus非常适合光学制造业。

  • 限定型形状和中间空间频率
  • 测量单位,球形,立方体和镜子
  • 波前传输质量测量
  • 快速和精确
  • 用于航空航天,半导体和光学行业188bet金宝搏网站188bet金宝搏亚洲体育与真人

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(520)294-5600

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