AccuFiz d
测量薄，透明光学器件，无需涂覆表面。
短的一致长度源和动态干涉测量，让您隔离并测量透明光学器件的各个表面，如窗口和圆顶。即使在较薄的材料上，测量远程空腔和光学厚度。
accufiz d specs.
| 配置 | 轴上斐索干涉仪 |
| 获得 | 振动不敏感的动态干涉 |
| 来源 | 外部短相干性（〜200微米）源 |
| 波长 | 636 NM. |
| 相机 | 4MP，12位 |
| 控制 | 遥控聚焦，缩放，平移，扩展光源的大小，测量 |
| 飞涨 | 连续1-10x与平移，校准全部缩放设置 |
| 软件 | 的4Sight™包括焦点 |
| 尺寸 | 小51.4厘米（20.2英寸）长 |
| 光圈 | 100毫米（4英寸）;可选到800 mm（24英寸） |
测量薄，透明光学器件是一个极具挑战性的应用。从这两个的反射，关闭表面产生复杂的条纹图案，难以或无法测量。
Accufiz D短连通性动态Fizeau干涉仪提供了平坦和弯曲透明光学元件的高精度测量。它的短连通长度源意味着您可以测量平面平行表面<0.2 mm，而无需涂层以消除不需要的条纹。快速，自动化的内部系统可让您快速扫描以定位和隔离每个表面。
短连贯源，完全沿轴光学设计，4D专利动态干涉测量，相结合，让你分离和测量复杂的光学系统中的各个表面。执行远程腔体和固体腔测试 - 即使测量到的环境和真空室。
所述AccuFiz d消除了对缓慢，振动敏感的相移的需要。其专利，单个摄像机，高速相传感器使得在低至150微秒的完整波前测量。因为采集时间是如此之短，该系统可以几乎任何条件下使用，即使用于测量移动部件，无振动隔离。
Accufiz D具有完全在轴的设计，这意味着参考和测试光束通过仪器的成像光学器件符合名义上相同的路径。结果，系统内部光学器件的像差和厚度变化抵消。结果：即使在非球形圆顶和其他弯曲表面上，也是高精度的测量。
店，通用性广
动态Accufiz D对振动不敏感，因此它可以在其他仪器根本不能的环境中运行。在商店地板上使用accufiz d右转：
- Windows中，薄玻璃，蓝宝石晶圆
- 圆顶和其他弯曲的，透明部件
- 平底鞋，球，棱柱
- 抛光半导体元件188bet金宝搏网站
- 远程腔
- 固体腔
- 光学厚度
- 组件和系统的传输
- 移动部件
- 份在真空和环境试验箱
大孔径选项
该AccuFiz d是4D大型光学配件完全兼容。这些扩束器和安装件能够在（300毫米）在（450毫米）（600毫米）（800 MM）选项易于处理和大型光学元件的测定中，用12,18和24和32。运动学安装装置，你可以用干涉仪与附件，删除它在单机模式中使用，那么它返回扩束无调整。
数据
分析
软件
引入4Sight焦点
全新的4Sight焦点分析软件包括所有4D干涉仪和光学分析仪 - 提供炽热的快速采集，丰富的视觉效果和丰富的分析功能。
- 快速采集和分析
- 干净的，可配置的接口
- 简单易学
- 深度分析能力
- 易于数据输出
- 智能集成和自动化。
Fizeaus和光学生产
AccuFiz Fizeaus很适合于制造光学器件。
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