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平板显示器生产需要在过程的每一步时准确计量。4D.phasecam.干涉仪旨在测量玻璃基板上的平坦度和缺陷，而nanodam sq.测量表面粗糙度和缺陷。你也可以使用Polarcam.快照微辐射器相机检查偏振片偏振质质量。

添加了技术资源

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空间光学器件和结构的测量

本文概述了用于构建动态干涉仪的技术和配置以及各种基于空间的光学组件的测量结果。

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轻质镜的振动特性

我们介绍了一种技术来表征和定量测量与表面图测试同时振动模式形状和镜像幅度。

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Phasecam IR干涉仪

紧凑，轻质和振动不敏感，可在近红外线（1.053,1.064,1.3和1.55微米）波长的精确表面和波前测量。

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光学分析器

nanodam sq.系统测量涂层和未涂层精密表面的表面粗糙度，以确保抛光过程的质量。

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偏光显像偏振光相机

测量应力引起的镜片，玻璃，瓶子和更多的双折射。

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