薄透明光学器件

薄的类别,透明的光学包括both plane-parallel (flat) optics such as windows, and curved components such as RADAR and LIDAR domes.

在测量透明光学器件时,干涉仪测试路径中的所有表面可能会导致干扰。大多数光学器件足够厚,或者在它们的表面之间具有足够大的倾斜角度,该表面只有一个表面通常干扰参考表面。

然而,当部件薄并且表面平行时,两个表面会干扰参考,导致类似于下面的薄玻璃盘的复杂干扰图。基于这种密集图案测量表面是困难或不可能的。

Traditionally, the only way to solve this problem has been to apply an anti-reflective coating to one surface so that the other can be measured. The coating is then removed and applied to the other surface for a second measurement. It is a messy, time-consuming operation that puts the optic in danger of being damaged.

短暂的相干源能够测量

利用短相干激光源,仅干扰在窄距离范围内的表面之间发生的干扰。使用短相干干涉仪即使在多分量系统中,操作员也可以隔离单个表面以测量。下面的干扰图显示了与上图中相同的玻璃盘;但是,通过短暂的相干来源,只有一个表面干扰。采集需要几秒钟,无需涂料。

在单个设置中测量曲面等

短暂的相干干涉仪让您测量光学器件的前表面,然后测量后表面通过the optic, without readjusting or realigning the system. From these two measurements we can also extract the optical thickness variation and transmitted wavefront error. Adding an empty cavity measurement enables measurement of homogeneity as well.

测量圆顶和其他弯曲表面

高弯曲的,也可以以这种方式测量透明部件。然而,这些测量需要FIZEAU干涉仪的一个附加功能:最小回溯误差,这导致弯曲测量的显着误差。

Accufiz D短连贯干涉仪具有完全在轴的设计,以最小化回溯误差 - 同时瞬时,“动态测量”确保高精度,即使在嘈杂的环境中也是如此。该组合能够精确测量圆顶,例如下面的圆顶。

与平面平行的光学一样,圆顶的两个表面都可以在单个测试设置中测量(见下文)。参考球与波前匹配到圆顶的标称形状。自动化“路径匹配”机构精确地定位到前后表面的距离,可以依次测量。

188bet亚洲体育手机薄,透明光学产品的产品

Accufiz D短连贯干涉仪

完全在轴上,动态Accufiz D Fizeau干涉仪可以测量平面并行光学和圆顶和其他高弯曲组件。

表面隔离源(SIS)

4D的表面隔离源是可选的外部激光源,用于使用标准的Accufiz干涉仪测量透明光学元件。您还可以从单个测量设置计算传输的波前误差,光学厚度和均匀性。

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