薄透明光学元件

薄而透明的光学元件包括平面平行(平面)光学元件(如窗口)和曲面元件(如雷达和激光雷达圆顶)。

当测量透明光学元件时,干涉仪测试路径中的所有表面都可能导致干扰。大多数光学元件都足够厚,或者它们的表面之间有足够大的倾斜角,通常只有一个表面与参考表面发生干涉。

但是,当元件很薄且表面平行时,两个表面都会干扰参考,从而产生复杂的干涉图,如下面所示的薄玻璃盘干涉图。基于这种密集的图形,很难或不可能测量表面。

传统上,解决这个问题的唯一方法是在一个表面涂上一层抗反射涂层,这样就可以测量另一个表面。然后去除涂层并将其涂覆到另一个表面上进行第二次测量。这是一个混乱的,耗时的操作,使光纤处于被损坏的危险。

短相干源使测量成为可能

对于短相干激光源,干涉只发生在距参考面较窄距离内的表面之间。使用短相干干涉仪,即使在多组分系统中,操作员也可以隔离单个待测表面。下面的干涉图显示的是与上图相同的玻璃盘;但是在这里,在短相干源下,只有一个表面干涉。采集需要几秒钟,不需要涂层。

在单个设置中测量两个或更多表面

一个短相干干涉仪可以测量光学元件的前表面,然后测量后表面通过光学系统,无需重新调整或重新校准系统。从这两个测量值中我们还可以提取光学厚度变化和透射波前误差。添加空腔测量也可以测量均匀性。

测量圆顶和其他曲面

高度弯曲、透明的部件也可以用这种方式测量。然而,这些测量需要菲索干涉仪的一个附加特性:最小的回溯误差,这会导致弯曲测量的显著误差。

这个AccuFiz D短相干干涉仪具有完全同轴设计,最大限度地减少回溯误差,同时瞬时,“动态测量”确保高精度,即使在嘈杂的环境。这种组合可以精确测量圆顶,如下面的圆顶。

与平面平行光学一样,可以在一个测试装置中测量圆顶的两个表面(见下文)。参考球面将波前与圆顶的标称形状相匹配。自动“路径匹配”机制精确定位到前后表面的距离,每个距离可以依次测量。

188bet亚洲体育手机薄透明光学产品

AccuFiz D短相干干涉仪

全轴动态AccuFiz D Fizeau干涉仪可以测量平面平行光学元件以及圆顶和其他高度弯曲的元件。

表面隔离源(SIS)

4D的表面隔离源是一个可选的外部激光源,用于用标准AccuFiz干涉仪测量透明光学元件。您也可以计算传输波前误差,光学厚度和均匀性,所有这些都从一个单一的测量设置。

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