原位抛光计量学

准确的形状和粗糙度反馈指导小光学元件的磨削和抛光操作。在抛光中心和计量实验室之间移动较小的光学器件可能并不困难。但是，对于大型且非常大的光学器件，这些旅行可能耗时且风险很大。

一个答案是将测量设备直接安装到抛光系统中，从而消除了材料处理和固定时间。挑战原位但是，抛光计量学正在克服与此类设备相关的空气流，振动和噪音。测量系统也必须非常紧凑，并且足够强大，以履行此具有挑战性的应用中的振动和碎屑。

使用4D的动态干涉仪和光学剖面仪的瞬时测量使得可以测量表面形状（phasecam）和表面粗糙度（纳米高清尽管振动。两种系统都直接纳入了抛光设备，为世界上许多主要望远镜和太空光学项目的抛光过程提供了立即的反馈。