同质性

均匀性是对材料样品或光学元件折射率一致性的测试。当使用光进行传输时,材料指数的任何变化都会引起穿过材料的波前折射的差异。这些变化直接转化为通过光学的波前误差。

然而,在传输过程中,由于样品前后表面形状的缺陷以及指数的可变性,会产生误差。为了分离出由每个表面和材料本身引起的变化,需要进行多次测量。为了避免进一步增加误差,各种测量值之间的校准必须是绝对的,因此测试具有挑战性。

4 d的AccuFiz SIS菲索干涉仪采用了一个短相干源,分离了平面平行光学的表面和大量样本。该光源可以独立地测量两个光学面,并从总体误差中减去它们,从而从三次测量中实现高重复性均匀性评估,所有测量都是通过一次设置获得的。

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用AccuFiz测量均匀性

简化了均匀性测量,缩短了测量时间,提高了重复性。

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AccuFiz SIS

AccuFiz与表面隔离源(SIS)使用短相干隔离平面平行光学,提供了一个能力,以三次测量的均匀性。

FizCam 2000

FizCam能够测量两个平行平面和它们之间的距离,能够在更少的步骤中测量均匀性,提供更快的结果和更多的重复性。

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