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PLANO(FLAT)光学

平面光学元件或Plano光学元件包括一系列具有至少一个名义平坦表面的光学组件。

单一的Plano光学元件仅在一侧进行抛光和抛光。这些平面经常用作“测试板”或参考表面,将其他光学或底物的平坦度比较。Plano参考通常由极为稳定的材料制成,例如熔融二氧化硅,BK7玻璃,Zerodur,硫化锌,锗,蓝宝石,蓝宝石,硅或硒化锌。单个方面的光学元件也可以用作高质量光学镜的底物。

Plano(平坦)光学,3轮和1棱镜

双面Plano光学元件或双面Plano光学元件在双方都进行了抛光。双面光学元件可以用作光学窗口(带有两个平行表面),一个楔形(两个表面相对于彼此相对于小角度抛光),作为光学滤波器的基板,作为材料样品测试同质性,或作为评估另一个测试光学计算机的参考。

从最一般的意义上讲,Plano光学元件包括所有具有表面的组件,可以使用准束进行测试,以将其与平坦参考进行比较。根据这个更广泛的定义,可以说Plano光学的家族还包括光束拆分器,角立方体,棱镜,潜望镜等用于光谱的Etalons等。

4D的动态Fizeau激光干涉仪测量平坦度,形状,厚度均匀性,同质性以及Plano光学,镜子,窗户,楔子,晶片,过滤器等的楔形。4DFizeau Systems可用于测量从深紫外线到IR的波长的平坦光学元件。

紧凑118bet网娱乐 Fizeau以对表面形状的快速,可重复的测量和楔形光学的传输波前误差进行划算。可选表面隔离源(SIS)Accufiz可以测量透明的两侧,并行光学元件在多表面光学系统,远程腔测试设置和固体腔中,稀薄的200微米以及表面。

梁扩展器允许标准的Accufiz系统测量最大直径800mm的光学元件,包括固态激光光学元件和高能激光放大器板。

纳米高清系统测量表面粗糙度在涂层和未涂层​​的Plano光学上,以确保抛光过程的质量。

添加了技术资源

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设置楔子因子

该技术说明解释了楔子因子的目的及其在普通测试配置中测量波前误差和表面高度的正确值。

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测量传输的波前误差

Accufiz D干涉仪可实现振动不敏感的TWE和远程腔测量。

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用Accufiz测量同质性

光学折射率的空间不均匀性可能是由熔化过程,密度变化或由于冷却过程中温度梯度引起的永久应力引起的。

188bet亚洲体育手机PLANO(FLAT)光学的产品

Accufiz

以快速,可重复的测量表面形状和楔形光学元件的波前误差进行划算。对于任何生产环境,它是最通用的菲佐(Fizeau)。

Accufiz sis

测量透明,平行光学元件的两侧,薄至200微米,多表面光学系统中的表面,远程腔测试设置以及诸如Etalons(激光杆)之类的实心腔。

光学剖面

纳米高清系统测量涂层和未涂层​​的精度表面上的表面粗糙度,以确保抛光过程的质量。

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