Accufiz D:轴上的动态等离表面隔离

Accufiz D是Accufiz系列中的最新功能,并结合了两个独特的功能:轴上的动态能力和表面隔离。我们发现它为客户要求的新测量做得很好。

Accufiz D可以在任何方向上取向。它的重量轻使其易于安装和使用。其动态测量技术意味着您可以测量湍流或振动 - 或者只是在记录时间内获得大量平均测量。

通过加入4D专利的微偏振器干涉技术,可以实现轴动态测量。这允许单帧测量而无需在参考和测试光束之间引入倾斜,这保留了FIZEAU配置的公共路径性质。当使用传输球参考光学器件时,在轴上操作尤其重要,这在使用时引入大量像差。

ACCUFIZ D还包括可调谐的短相干长度源模块,使得用户能够选择性地干扰任何腔组合。这在测量平行并行光学诸如窗户时特别有用,而无需治疗背面。它还允许直接测量总厚度变化(TTV)。

一种精密镜头,使客户提出了挑战:它们具有圆顶形光学的厚度,并且需要测量表面质量和表面之间的距离。Accufiz D是完美的解决方案动态在轴外围这可以在没有振动隔离的情况下快速平均测量。它还具有表面隔离技术SIS,可以选择性地测量前表面或后表面,或直接测量前后表面。

通过使用参考球来创建必要的球面波前,干涉仪被光学地“匹配”到圆顶,使光可以收集回系统。SIS模块允许选择性调谐以相对于参考表面测量外表面,然后内表面(相对于参考表面)而无需改变部分位置或用流体或涂料处理表面位置或处理表面。另外,无论参考表面如何,都可以调谐SIS以直接测量前后表面之间的总厚度变化TTV。可以测量小于50microns的厚度。

在表面之间调谐的独特能力以及轴上动态测量能力提供了用于车间测量的非常灵活和能力的通用仪器。

带表面隔离的Accufiz D可以选择光学窗口的前表面和后表面来干扰,允许比较厚度(TTV)测量。

事实证明,开发用于测量平面平行平面光学器件的源隔离技术也可用于圆顶窗口!

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请联系我们进行圆顶的单独前部和后表面的新Accufiz D的实际测量。Accufiz D是一个轴动态的Fizeau干涉仪。使用它,您可以获得方便,动态速度和精度,以及测量平行表面的表面分离,具有振动和湍流免疫能力。

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